在(zai)超聲(sheng)(sheng)(sheng)波傳(chuan)播中(zhong)，在(zai)不同聲(sheng)(sheng)(sheng)速的(de)兩(liang)種(zhong)(zhong)介(jie)質界面上(shang)，臨界角(jiao)(jiao)實(shi)質是指折射角(jiao)(jiao)為(wei)(wei)90°時的(de)入(ru)(ru)射角(jiao)(jiao)（按斯涅耳定律計(ji)算），這只能在(zai)被(bei)入(ru)(ru)射介(jie)質中(zhong)的(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)速大于入(ru)(ru)射介(jie)質的(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)速時發(fa)生。超過這一角(jiao)(jiao)度時在(zai)被(bei)入(ru)(ru)射介(jie)質中(zhong)不會出現某種(zhong)(zhong)的(de)特定波形。根據斯涅耳定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中(zhong)：α為(wei)(wei)入(ru)(ru)射角(jiao)(jiao)β為(wei)(wei)折射角(jiao)(jiao)V2為(wei)(wei)被(bei)入(ru)(ru)射介(jie)質的(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)速V1為(wei)(wei)入(ru)(ru)射介(jie)質的(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)速如入(ru)(ru)射介(jie)質是水，被(bei)入(ru)(ru)射介(jie)質是鋼(gang)，根據斯涅爾定律存在(zai)兩(liang)個臨界角(jiao)(jiao)，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2臨界角(jiao)(jiao)：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第(di)二臨界角(jiao)(jiao)：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超聲(sheng)(sheng)(sheng)波數字檢測儀設備可以進行多種(zhong)(zhong)語言(yan)的(de)切換，適應不同地區的(de)使用需求(qiu)。南通檢測儀使用教程(cheng)

探傷儀

概述：帶延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)，通過(guo)在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)下方(fang)加裝延(yan)時塊(kuai)，以提(ti)供不同的超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)檢測功能和(he)(he)選項(xiang)。延(yan)時塊(kuai)根據需求設計(ji)，有可拆(chai)卸延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)、表(biao)面保護膜(mo)和(he)(he)橡膠延(yan)時塊(kuai)等選項(xiang)。帶延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)的主要(yao)功能是(shi)利用(yong)(yong)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)晶片與(yu)工(gong)件(jian)表(biao)面之(zhi)間(jian)的時間(jian)延(yan)遲(chi)(chi)，這(zhe)樣能夠(gou)提(ti)高(gao)表(biao)面分(fen)辨率。帶延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)設計(ji)用(yong)(yong)于(yu)高(gao)精度(du)厚(hou)度(du)的測量，超(chao)(chao)薄工(gong)件(jian)等應用(yong)(yong)材料和(he)(he)復合(he)材料的分(fen)層檢測。使用(yong)(yong)耐高(gao)溫材料的延(yan)時塊(kuai)還可以制作成用(yong)(yong)于(yu)高(gao)溫材料檢測的高(gao)溫超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)。應用(yong)(yong)：帶延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)常(chang)用(yong)(yong)于(yu)超(chao)(chao)薄工(gong)件(jian)檢測和(he)(he)高(gao)精度(du)測厚(hou)，因此，常(chang)采用(yong)(yong)10MHz/15MHz/20MHz等高(gao)頻率，超(chao)(chao)高(gao)頻超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)需具(ju)備窄脈沖寬(kuan)頻的特性(xing)，在(zai)薄板金屬構件(jian)或焊接接頭(tou)(tou)(tou)(tou)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)檢測中具(ju)有較高(gao)的精度(du)和(he)(he)實(shi)用(yong)(yong)性(xing)。浙江工(gong)業(ye)無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)儀HUT-3X0系(xi)列手持數字超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀探(tan)傷(shang)時缺(que)陷長度(du)的測定方(fang)法。

CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)是我國(guo)承壓設(she)備無損檢(jian)測標(biao)準JB/T4730—2005中(zhong)規(gui)定(ding)(ding)(ding)的(de)(de)標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)，是在IIW試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)基礎(chu)上改進(jin)后得到的(de)(de)，其結(jie)構及主要(yao)尺寸如圖4—30所示。CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)有三點改進(jin):1)將(jiang)直孔(kong)φ50mm改進(jin)φ50mm、φ44mm、φ40mm臺階(jie)孔(kong)，以(yi)便于(yu)測定(ding)(ding)(ding)橫波(bo)(bo)(bo)斜(xie)探頭(tou)(tou)的(de)(de)分辨力。2)將(jiang)R100改為(wei)R100、R50階(jie)梯圓弧，以(yi)便于(yu)調(diao)(diao)整橫波(bo)(bo)(bo)掃描(miao)速度(du)和(he)檢(jian)測范(fan)圍。3)將(jiang)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)上標(biao)定(ding)(ding)(ding)的(de)(de)折射角改為(wei)K值(zhi)(K=tanβs)，從而可直接測出橫波(bo)(bo)(bo)斜(xie)探頭(tou)(tou)的(de)(de)K值(zhi)。CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)的(de)(de)其他功能(neng)同IIW試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai),材(cai)質(zhi)一(yi)(yi)般同被檢(jian)工件。(4)CSK-IA,CSK一(yi)(yi)IA和(he)CSK一(yi)(yi)ⅣA標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)是JB/T4730—2005標(biao)準中(zhong)規(gui)定(ding)(ding)(ding)采(cai)用(yong)(yong)的(de)(de)焊縫超聲波(bo)(bo)(bo)檢(jian)測用(yong)(yong)的(de)(de)橫孔(kong)標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)。CSK-IA結(jie)我國(guo)的(de)(de)CSK系列標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)比較特(te)殊，要(yao)求試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)材(cai)質(zhi)與工件相同或相近。CSK-IA,CSK一(yi)(yi)IA,CSK-ⅣA試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)主要(yao)用(yong)(yong)于(yu)測定(ding)(ding)(ding)橫波(bo)(bo)(bo)距離一(yi)(yi)波(bo)(bo)(bo)幅曲線、斜(xie)探頭(tou)(tou)的(de)(de)K值(zhi)和(he)調(diao)(diao)整橫波(bo)(bo)(bo)掃描(miao)速度(du)和(he)靈(ling)敏度(du)等。其中(zhong)CSK-IA和(he)CSK-A適(shi)用(yong)(yong)于(yu)壁(bi)厚范(fan)圍為(wei)8~120mm的(de)(de)焊縫，CSK-ⅣA系列試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)用(yong)(yong)于(yu)壁(bi)厚范(fan)圍120～400mm的(de)(de)焊縫。

方(fang)法(fa)(fa)一(yi)：橫波(bo)(bo)(bo)探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)對焊縫進行(xing)(xing)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)檢(jian)測(ce)時，需要(yao)在(zai)焊縫兩側進行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，找到(dao)底端反(fan)射波(bo)(bo)(bo)B，移動超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)頭(tou)找到(dao)頂端反(fan)射波(bo)(bo)(bo)T，出(chu)現(xian)在(zai)B和T波(bo)(bo)(bo)之間的(de)(de)異常回波(bo)(bo)(bo)（F）即為缺陷(xian)(xian)波(bo)(bo)(bo)，由(you)于超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)檢(jian)測(ce)時采用聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)多(duo)次反(fan)射法(fa)(fa)進行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，可(ke)選擇(ze)具(ju)(ju)有(you)半跨距(ju)顯(xian)示(shi)功能的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)，通過(guo)輸入檢(jian)測(ce)板(ban)厚度值，從而在(zai)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)波(bo)(bo)(bo)形顯(xian)示(shi)區域可(ke)更直觀的(de)(de)顯(xian)示(shi)出(chu)檢(jian)測(ce)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)具(ju)(ju)體信息。方(fang)法(fa)(fa)二：超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)穿(chuan)透(tou)法(fa)(fa)如果焊接(jie)后表面(mian)平整(zheng)，也(ye)可(ke)采用縱波(bo)(bo)(bo)法(fa)(fa)進行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，如果焊縫中存在(zai)一(yi)定尺寸的(de)(de)氣(qi)孔或者夾雜缺陷(xian)(xian)，收(shou)到(dao)的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)波(bo)(bo)(bo)幅遠遠小于沒有(you)缺陷(xian)(xian)時，當缺陷(xian)(xian)達(da)到(dao)一(yi)定尺寸后，接(jie)收(shou)探(tan)頭(tou)無(wu)法(fa)(fa)接(jie)收(shou)到(dao)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)數(shu)字檢(jian)測(ce)儀(yi)可(ke)以進行(xing)(xing)多(duo)種(zhong)數(shu)據處理方(fang)式的(de)(de)選擇(ze)，提高數(shu)據分析能力。

試(shi)塊(kuai)的(de)(de)分類超聲(sheng)檢(jian)(jian)測用(yong)(yong)試(shi)塊(kuai)通常分為(wei)標(biao)(biao)準試(shi)塊(kuai)、對(dui)(dui)比試(shi)塊(kuai)和(he)模(mo)擬(ni)試(shi)塊(kuai)三大(da)類。(1)標(biao)(biao)準試(shi)塊(kuai)標(biao)(biao)準試(shi)塊(kuai)通常是由機構制定(ding)的(de)(de)試(shi)塊(kuai)，其(qi)特(te)(te)性與(yu)制作(zuo)要求有專門的(de)(de)標(biao)(biao)準規(gui)定(ding)。標(biao)(biao)準試(shi)塊(kuai)通常具有規(gui)定(ding)的(de)(de)材質、形狀、尺寸(cun)(cun)及(ji)表面狀態。如IIW試(shi)塊(kuai),CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）對(dui)(dui)比試(shi)塊(kuai)對(dui)(dui)比試(shi)塊(kuai)是以特(te)(te)定(ding)方法檢(jian)(jian)測特(te)(te)定(ding)工件(jian)(jian)時采用(yong)(yong)的(de)(de)試(shi)塊(kuai)，含有意義明確(que)的(de)(de)人(ren)工反射體（平底孔、槽(cao)等(deng))。它與(yu)被檢(jian)(jian)工件(jian)(jian)材料聲(sheng)學(xue)特(te)(te)性相似，其(qi)外形尺寸(cun)(cun)應(ying)能(neng)被檢(jian)(jian)工件(jian)(jian)的(de)(de)特(te)(te)征，試(shi)塊(kuai)厚度應(ying)與(yu)被檢(jian)(jian)工件(jian)(jian)的(de)(de)厚度相對(dui)(dui)應(ying)。對(dui)(dui)比試(shi)塊(kuai)主(zhu)要用(yong)(yong)于檢(jian)(jian)測校(xiao)準以及(ji)評估缺(que)(que)陷的(de)(de)當量(liang)尺寸(cun)(cun)，以及(ji)將所檢(jian)(jian)出的(de)(de)不連續信(xin)號與(yu)試(shi)塊(kuai)中已知(zhi)反射體產生的(de)(de)信(xin)號相比較。(3）模(mo)擬(ni)試(shi)塊(kuai)模(mo)擬(ni)試(shi)塊(kuai)是含模(mo)擬(ni)缺(que)(que)陷的(de)(de)試(shi)塊(kuai)，可(ke)以是模(mo)擬(ni)工件(jian)(jian)中實(shi)際缺(que)(que)陷而制作(zuo)的(de)(de)樣件(jian)(jian)，或者(zhe)是在(zai)以往檢(jian)(jian)測中所發現含自然缺(que)(que)陷的(de)(de)樣件(jian)(jian)。模(mo)擬(ni)試(shi)塊(kuai)主(zhu)要用(yong)(yong)于檢(jian)(jian)測方法的(de)(de)研究(jiu)、無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測人(ren)員資格考核和(he)評定(ding)、評價(jia)和(he)驗證儀器探頭系統(tong)的(de)(de)檢(jian)(jian)測能(neng)力和(he)檢(jian)(jian)測工藝等(deng)。手持數字(zi)超聲(sheng)波探傷儀校(xiao)準方法、校(xiao)準視頻(pin)!浙江數字(zi)超聲(sheng)波探傷儀用(yong)(yong)途

HUT-3X0系列手持數字(zi)超聲波(bo)探傷(shang)儀(yi)壓力容器行業超聲波(bo)檢測解(jie)決方案。南通檢測儀(yi)使用教程

渾(hun)身是寶(bao)的(de)(de)(de)(de)CSK-IA超聲(sheng)(sheng)波試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)是超聲(sheng)(sheng)波檢測(ce)(ce)(ce)較常用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)之一，標(biao)準中對(dui)于(yu)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)(de)定義(yi)分(fen)(fen)為標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)、對(dui)比試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)，其中CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)穩居標(biao)準試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)行列已有15年之久。針對(dui)CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)(de)各部(bu)分(fen)(fen)功能進行描述（1）采用(yong)(yong)(yong)R=50mm，R=100mm弧，可(ke)(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)定聲(sheng)(sheng)速、探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)入(ru)射點（前沿、探(tan)頭(tou)(tou)(tou)延遲），如果(guo)(guo)只采用(yong)(yong)(yong)單弧（50mm或(huo)100mm）可(ke)(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)定探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)入(ru)射點，聲(sheng)(sheng)速可(ke)(ke)(ke)(ke)以手動輸入(ru)。建(jian)議可(ke)(ke)(ke)(ke)采用(yong)(yong)(yong)單弧測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，測(ce)(ce)(ce)定聲(sheng)(sheng)速為CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)速！（2）可(ke)(ke)(ke)(ke)采用(yong)(yong)(yong)三(san)(san)個不同深度的(de)(de)(de)(de)臺階(jie)底面（85mm、91mm、100mm）用(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)定直(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)辨(bian)力，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)結(jie)果(guo)(guo)可(ke)(ke)(ke)(ke)做參(can)考NB/T47013要求測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)方(fang)法參(can)考JB/T9214。(3)可(ke)(ke)(ke)(ke)采用(yong)(yong)(yong)40mm、44mm、50mm三(san)(san)個階(jie)梯孔(kong)測(ce)(ce)(ce)定斜探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)辨(bian)力，此(ci)處測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)結(jie)果(guo)(guo)可(ke)(ke)(ke)(ke)做參(can)考，NB/T47013要求測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)方(fang)法參(can)考JB/T9214。另(ling)外可(ke)(ke)(ke)(ke)采用(yong)(yong)(yong)50mm圓(yuan)孔(kong)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)斜探(tan)頭(tou)(tou)(tou)K值(zhi)，K2、K2.5、K3探(tan)頭(tou)(tou)(tou)布置(zhi)在(zai)上(shang)表(biao)面，K1、K1.5探(tan)頭(tou)(tou)(tou)布置(zhi)在(zai)下表(biao)面。采用(yong)(yong)(yong)50mm圓(yuan)孔(kong)還(huan)可(ke)(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)直(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)盲區，探(tan)頭(tou)(tou)(tou)位(wei)置(zhi)分(fen)(fen)別(bie)布置(zhi)在(zai)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)上(shang)表(biao)面及側面，此(ci)處測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)結(jie)果(guo)(guo)也作(zuo)為參(can)考，具體(ti)方(fang)法應參(can)照JB/T9214。（4）φ1.5mm橫孔(kong)可(ke)(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)斜探(tan)頭(tou)(tou)(tou)K值(zhi)。（5）將CSK-IA試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)平(ping)置(zhi)，可(ke)(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)25mm大平(ping)底、測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)水平(ping)線性、垂直(zhi)線性，垂直(zhi)線性測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)結(jie)果(guo)(guo)可(ke)(ke)(ke)(ke)作(zuo)參(can)考，具體(ti)方(fang)法參(can)照JB/T9214。另(ling)外可(ke)(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)大平(ping)底校準直(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)！南通檢測(ce)(ce)(ce)儀使用(yong)(yong)(yong)教程

南通繪環電(dian)子科技有限公司(si)目前(qian)已(yi)成(cheng)(cheng)為(wei)一家集產(chan)品(pin)(pin)(pin)研發(fa)(fa)、生產(chan)、銷售(shou)相結合的(de)(de)(de)(de)其(qi)他型(xing)企(qi)業。公司(si)成(cheng)(cheng)立于(yu)2014-11-19，自(zi)成(cheng)(cheng)立以來(lai)一直秉承自(zi)我研發(fa)(fa)與技術(shu)引(yin)進相結合的(de)(de)(de)(de)科技發(fa)(fa)展(zhan)戰略。公司(si)主要(yao)經營超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜(xie)式超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，焊縫(feng)檢(jian)測(ce)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)(yi)(yi)等，我們(men)始終堅(jian)持(chi)以可靠的(de)(de)(de)(de)產(chan)品(pin)(pin)(pin)質量，良好(hao)的(de)(de)(de)(de)服(fu)(fu)(fu)務(wu)理念，優惠(hui)(hui)的(de)(de)(de)(de)服(fu)(fu)(fu)務(wu)價(jia)格誠信(xin)和讓(rang)利于(yu)客戶(hu)(hu)，堅(jian)持(chi)用自(zi)己的(de)(de)(de)(de)服(fu)(fu)(fu)務(wu)去打(da)動客戶(hu)(hu)。依托成(cheng)(cheng)熟的(de)(de)(de)(de)產(chan)品(pin)(pin)(pin)資(zi)(zi)源和渠道(dao)資(zi)(zi)源，向全國生產(chan)、銷售(shou)超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜(xie)式超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，焊縫(feng)檢(jian)測(ce)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)(yi)(yi)產(chan)品(pin)(pin)(pin)，經過多年(nian)的(de)(de)(de)(de)沉淀和發(fa)(fa)展(zhan)已(yi)經形成(cheng)(cheng)了科學的(de)(de)(de)(de)管理制度、豐富的(de)(de)(de)(de)產(chan)品(pin)(pin)(pin)類型(xing)。我們(men)本(ben)著客戶(hu)(hu)滿意的(de)(de)(de)(de)原則為(wei)客戶(hu)(hu)提供超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜(xie)式超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，焊縫(feng)檢(jian)測(ce)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)，超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)(yi)(yi)產(chan)品(pin)(pin)(pin)售(shou)前(qian)服(fu)(fu)(fu)務(wu)，為(wei)客戶(hu)(hu)提供周到的(de)(de)(de)(de)售(shou)后(hou)服(fu)(fu)(fu)務(wu)。價(jia)格低(di)廉優惠(hui)(hui)，服(fu)(fu)(fu)務(wu)周到，歡迎您的(de)(de)(de)(de)來(lai)電(dian)！

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